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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Ochiai, S. | en |
| dc.contributor.author | Fujimoto, M. | en |
| dc.contributor.author | Okuda, H. | en |
| dc.contributor.author | Oh, S. S. | en |
| dc.contributor.author | Ha, D. W. | en |
| dc.date.accessioned | 2008-11-17T03:05:59Z | - |
| dc.date.available | 2008-11-17T03:05:59Z | - |
| dc.date.issued | 2007 | - |
| dc.identifier.issn | 0953-2048 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/67533 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | IOP PUBLISHING LTD | en |
| dc.title | Sample-length dependence of the critical current of slightly and significantly bent-damaged Bi2223 superconducting composite tape | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | SUPERCONDUCTOR SCIENCE & TECHNOLOGY | en |
| dc.identifier.volume | 20 | - |
| dc.identifier.issue | 8 | - |
| dc.identifier.spage | 800 | - |
| dc.identifier.epage | 809 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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