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dc.contributor.authorShang, Fen
dc.contributor.authorKitamura, Ten
dc.contributor.authorHirakata, Hen
dc.contributor.authorKanno, Ien
dc.contributor.authorKotera, Hen
dc.contributor.authorTerada, Ken
dc.date.accessioned2007-03-28T03:40:35Z-
dc.date.available2007-03-28T03:40:35Z-
dc.date.issued2005-
dc.identifier.issn0020-7683-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/7176-
dc.language.isoeng-
dc.publisherPERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTDen
dc.subjectdelaminationen
dc.subjectthin filmen
dc.subjectpiezoelectric materialen
dc.subjectinterface strengthen
dc.titleExperimental and theoretical investigations of delamination at free edge of interface between piezoelectric thin films on a substrateen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleINTERNATIONAL JOURNAL OF SOLIDS AND STRUCTURESen
dc.identifier.volume42-
dc.identifier.issue5-6-
dc.identifier.spage1729-
dc.identifier.epage1741-
dc.relation.doi10.1016/j.ijsolstr.2004.08.004-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
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