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| タイトル: | Characterization of nanotextured AIN thin films by x-ray absorption near-edge structures |
| 著者: | Suga, T Kameyama, S Yoshioka, S Yamamoto, T Tanaka, I    https://orcid.org/0000-0002-4616-118X (unconfirmed)Mizoguchi, T |
| 発行日: | 2005 |
| 出版者: | AMER INST PHYSICS |
| 誌名: | APPLIED PHYSICS LETTERS |
| 巻: | 86 |
| 号: | 16 |
| 論文番号: | 163113 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/7382 |
| DOI(出版社版): | 10.1063/1.1904714 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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