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タイトル: Analysis of direct current potential field around multiple spherical defects
著者: Tada, N
Nakayama, E
Kitamura, T  KAKEN_id
Ohtani, R
キーワード: numerical analysis
nondestructive inspection
electric potential difference
multiple spherical defects
direct current
defect-current modification method
発行日: 2000
出版者: JAPAN SOC MECHANICAL ENGINEERS
誌名: JSME INTERNATIONAL JOURNAL SERIES A-SOLID MECHANICS AND MATERIAL ENGINEERING
巻: 43
号: 2
開始ページ: 109
終了ページ: 116
URI: http://hdl.handle.net/2433/7512
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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