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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| chd071_2_104.pdf | 296.12 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | Characterization of Mo/Si Multilayer by X-Rays (Commemoration Issue Dedicated to Professor Tohru Takenaka On the Occasion of His Retirement) |
| 著者: | Ito, Yoshiaki Mukoyama, Takeshi Omote, Kazuhiko Shimizu, Kazuaki Nisawa, Atsushi Shoji, Takashi Terauchi, Hikaru Kuehner, Scott |
| 著者名の別形: | 伊藤, 嘉昭 向山, 毅 表, 和彦 清水, 一明 ニ沢, 宏司 庄司, 孝 寺内, 暉 |
| 発行日: | 30-Sep-1993 |
| 出版者: | Institute for Chemical Research, Kyoto University |
| 誌名: | Bulletin of the Institute for Chemical Research, Kyoto University |
| 巻: | 71 |
| 号: | 2 |
| 開始ページ: | 104 |
| 終了ページ: | 110 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/77514 |
| 出現コレクション: | Vol.71 No.2 |
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