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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Feng, Gan | en |
| dc.contributor.author | Suda, Jun | en |
| dc.contributor.author | Kimoto, Tsunenobu | en |
| dc.date.accessioned | 2009-06-23T05:26:17Z | - |
| dc.date.available | 2009-06-23T05:26:17Z | - |
| dc.date.issued | 2008 | - |
| dc.identifier.issn | 0003-6951 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/78617 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | AMER INST PHYSICS | en |
| dc.title | Characterization of stacking faults in 4H-SiC epilayers by room-temperature microphotoluminescence mapping | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | APPLIED PHYSICS LETTERS | en |
| dc.identifier.volume | 92 | - |
| dc.identifier.issue | 22 | - |
| dc.relation.doi | 10.1063/1.2937097 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dc.identifier.artnum | 221906 | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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