このアイテムのアクセス数: 0

このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
完全メタデータレコード
DCフィールド言語
dc.contributor.authorIkehara, Ten
dc.contributor.authorTsuchiya, Ten
dc.date.accessioned2009-06-23T05:31:37Z-
dc.date.available2009-06-23T05:31:37Z-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.issn0960-1317-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/78961-
dc.language.isoeng-
dc.publisherIOP PUBLISHING LTDen
dc.titleHigh-cycle fatigue of micromachined single-crystal silicon measured using high-resolution patterned specimensen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleJOURNAL OF MICROMECHANICS AND MICROENGINEERINGen
dc.identifier.volume18-
dc.identifier.issue7-
dc.relation.doi10.1088/0960-1317/18/7/075004-
dc.textversionnone-
dc.identifier.artnum075004-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
出現コレクション:英文論文データベース

アイテムの簡略レコードを表示する

Export to RefWorks


出力フォーマット 


このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。