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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Kimura, Kenji | en |
| dc.contributor.author | Nakajima, Kaoru | en |
| dc.contributor.author | Zhao, Ming | en |
| dc.contributor.author | Nohira, Hiroshi | en |
| dc.contributor.author | Hattori, Takeo | en |
| dc.contributor.author | Kobata, Masaaki | en |
| dc.contributor.author | Ikenaga, Eiji | en |
| dc.contributor.author | Kim, Jung An | en |
| dc.contributor.author | Kobayashi, Keisuke | en |
| dc.contributor.author | Conard, Thierry | en |
| dc.contributor.author | Vandervorst, Wilfried | en |
| dc.date.accessioned | 2009-06-23T05:31:46Z | - |
| dc.date.available | 2009-06-23T05:31:46Z | - |
| dc.date.issued | 2008 | - |
| dc.identifier.issn | 0142-2421 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/78969 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | JOHN WILEY & SONS LTD | en |
| dc.subject | high-resolution RBS | en |
| dc.subject | angle-resolved XPS | en |
| dc.subject | depth profiling | en |
| dc.subject | combination analysis | en |
| dc.title | Combination of high-resolution RBS and angle-resolved XPS: accurate depth profiling of chemical states | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS | en |
| dc.identifier.volume | 40 | - |
| dc.identifier.issue | 3-4 | - |
| dc.identifier.spage | 423 | - |
| dc.identifier.epage | 426 | - |
| dc.relation.doi | 10.1002/sia.2628 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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