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完全メタデータレコード
DCフィールド | 値 | 言語 |
---|---|---|
dc.contributor.author | Tomita, T | en |
dc.contributor.author | Matsuo, S | en |
dc.contributor.author | Okada, T | en |
dc.contributor.author | Kimoto, T | en |
dc.contributor.author | Matsunami, H | en |
dc.contributor.author | Mitani, T | en |
dc.contributor.author | Nakashima, SI | en |
dc.date.accessioned | 2007-03-28T03:23:44Z | - |
dc.date.available | 2007-03-28T03:23:44Z | - |
dc.date.issued | 2005 | - |
dc.identifier.issn | 0003-6951 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/7902 | - |
dc.language.iso | eng | - |
dc.publisher | AMER INST PHYSICS | en |
dc.title | Deep-ultraviolet micro-Raman investigation of surface defects in a 4H-SiC homoepitaxially grown film | en |
dc.type | journal article | - |
dc.type.niitype | Journal Article | - |
dc.identifier.jtitle | APPLIED PHYSICS LETTERS | en |
dc.identifier.volume | 87 | - |
dc.identifier.issue | 24 | - |
dc.relation.doi | 10.1063/1.2142080 | - |
dc.textversion | none | - |
dc.identifier.artnum | 241906 | - |
dcterms.accessRights | metadata only access | - |
出現コレクション: | 英文論文データベース |

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