このアイテムのアクセス数: 0

このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
完全メタデータレコード
DCフィールド言語
dc.contributor.authorMatsubayashi, Hen
dc.contributor.authorMukai, Yen
dc.contributor.authorShin, JKen
dc.contributor.authorOchiai, Sen
dc.contributor.authorOkuda, Hen
dc.contributor.authorOsamura, Ken
dc.contributor.authorOtto, Aen
dc.contributor.authorMalozemofff, Aen
dc.date.accessioned2009-06-23T05:33:10Z-
dc.date.available2009-06-23T05:33:10Z-
dc.date.issued2008-
dc.identifier.issn0921-4534-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/79060-
dc.language.isoeng-
dc.publisherELSEVIER SCIENCE BVen
dc.subjectBSCCO tapeen
dc.subjectcritical currenten
dc.subjectbendingen
dc.subjectsample lengthen
dc.titleDependence of critical current on sample length analyzed by the variation of local critical current bent of BSCCO superconducting composite tapeen
dc.typeconference paper-
dc.type.niitypeConference Paper-
dc.identifier.jtitlePHYSICA C-SUPERCONDUCTIVITY AND ITS APPLICATIONSen
dc.identifier.volume468-
dc.identifier.issue15-20-
dc.identifier.spage1775-
dc.identifier.epage1778-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
出現コレクション:英文論文データベース

アイテムの簡略レコードを表示する

Export to RefWorks


出力フォーマット 


このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。