ダウンロード数: 0
このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
| タイトル: | Correlation between the electrical properties and the interfacial microstructures of TiAl-based ohmic contacts to p-type 4H-SiC |
| 著者: | Tsukimoto, S Nitta, K Sakai, T Moriyama, M Murakami, M |
| キーワード: | TiAl-based p-type 4H-SiC ohmic contact microstructure Ti3SiC2 |
| 発行日: | 2004 |
| 出版者: | MINERALS METALS MATERIALS SOC |
| 誌名: | JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS |
| 巻: | 33 |
| 号: | 5 |
| 開始ページ: | 460 |
| 終了ページ: | 466 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/7989 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。