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タイトル: Mechanism of electron localization at edge-sharing units in amorphous SiO2
著者: Uchino, T
Yoko, T
発行日: 2003
出版者: AMERICAN PHYSICAL SOC
誌名: PHYSICAL REVIEW B
巻: 68
号: 4
論文番号: 041201
URI: http://hdl.handle.net/2433/8029
DOI(出版社版): 10.1103/PhysRevB.68.041201
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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