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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Umeda, K | en |
| dc.contributor.author | Kobayashi, K | en |
| dc.contributor.author | Ishida, K | en |
| dc.contributor.author | Hotta, S | en |
| dc.contributor.author | Yamada, H | en |
| dc.contributor.author | Matsushige, K | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T04:18:38Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T04:18:38Z | - |
| dc.date.issued | 2001 | - |
| dc.identifier.issn | 0021-4922 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/8063 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | INST PURE APPLIED PHYSICS | en |
| dc.subject | oligothiophene | en |
| dc.subject | Kelvin probe force microscopy | en |
| dc.subject | surface potential | en |
| dc.title | Surface potential measurement of oligothiophene ultrathin films by Kelvin probe force microscopy | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS | en |
| dc.identifier.volume | 40 | - |
| dc.identifier.issue | 6B | - |
| dc.identifier.spage | 4381 | - |
| dc.identifier.epage | 4383 | - |
| dc.relation.doi | 10.1143/JJAP.40.4381 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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