このアイテムのアクセス数: 0

このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
完全メタデータレコード
DCフィールド言語
dc.contributor.authorYamamoto, Ten
dc.contributor.authorSato, Cen
dc.contributor.authorMogi, Men
dc.contributor.authorTanaka, Ien
dc.contributor.authorAdachi, Hen
dc.date.accessioned2007-03-28T04:05:48Z-
dc.date.available2007-03-28T04:05:48Z-
dc.date.issued2004-
dc.identifier.issn0368-2048-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/8411-
dc.language.isoeng-
dc.publisherELSEVIER SCIENCE BVen
dc.subjectKL2,3V Auger spectrumen
dc.subjectelectronic structureen
dc.subjectfirst-principles calculationsen
dc.subjectcore-hole effecten
dc.titleFine structure analysis of SiKL2,3V Auger spectra of Si, SiC and SiO2en
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleJOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENAen
dc.identifier.volume135-
dc.identifier.issue1-
dc.identifier.spage21-
dc.identifier.epage25-
dc.relation.doi10.1016/j.elspec.2003.12.001-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
出現コレクション:英文論文データベース

アイテムの簡略レコードを表示する

Export to RefWorks


出力フォーマット 


このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。