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11. ジョセフソン接合のサブミリ波照射効果(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
岸本, 幹夫 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 130-131
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12. メスバウアー効果による融点近傍の金属Snの研究(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
欅田, 昌也 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 131-132
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13. SQUID磁束計の光磁気効果への応用(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
近藤, 道雄 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 132-133
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14. bcc金属(100)表面の再構成(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
沢田, 稔 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 133-134
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15. 熱力学的解析によるMg_2GeO_4高圧相転移境界の決定(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
塩田, 浩平 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 134-134
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16. 金属中を流れる電子の状態と電子照射損傷の関係(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
末広, 正芳 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 135-135
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17. 不純物半導体におけるD^-バンドの遠赤外分光(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
沢田, 茂樹 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 136-136
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18. Fe-Pd合金の相変態(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
杉山, 昌章 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 136-137
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19. 水銀カルコゲナイドの高圧下における相転移(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
清家, 忠義 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 137-138
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20. 固体Xeの金属化の非経験論的研究 : HPC構造について(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
得居, 康男 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 138-138
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21. Cu-Sn合金のオメガ変態とマルテンサイト変態(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
谷本, 益久 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 138-139
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22. A15型超伝導化合物-Nb_3Ge_<1-x>Si_x-の高圧高温合成(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
中村, 恒夫 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 139-140
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23. 共鳴4光子ミキシング法によるnarrow gap半導体の研究(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
樋本, 健 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 140-141
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24. 擬2次元磁性体の臨界現象(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
村上, 洋一 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 141-142
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25. Eskebornite, (CuFe)_<1.1>Se_2の合成・構造決定と高圧相の発見(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
八木, 啓吏 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 142-143
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26. 低次元磁性体化合物における加圧下の相転移(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
和田, 勝 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 143-144
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27. 金属の誘電関数と相関エネルギー(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
井口, 和基 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 144-145
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28. X線用半導体一次元検出器によるEXAFS測定装置の開発と相転移研究への応用(大阪大学基礎工学部物性分野,修士論文アブストラクト(1981年度))
児島, 俊郎 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 145-145
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1. ピレンおよびβ-ペリレンの単結晶育成と螢光スペクトル(甲南大学大学院自然科学研究科物理学専攻,修士論文アブストラクト(1981年度))
家村, 元章 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 146-146
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1. The effect of mechanical stress on the capacitance-voltage characteristics of GaAs MOS diodes
小泉, 正治 (1982-06-20)
物性研究, 38(3): 147-147
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