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完全メタデータレコード
DCフィールド | 値 | 言語 |
---|---|---|
dc.contributor.author | Ogawa, T | en |
dc.contributor.author | Niwa, H | en |
dc.contributor.author | Okuda, H | en |
dc.contributor.author | Ochiai, S | en |
dc.date.accessioned | 2007-03-28T04:28:06Z | - |
dc.date.available | 2007-03-28T04:28:06Z | - |
dc.date.issued | 2005 | - |
dc.identifier.issn | 0255-5476 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/8852 | - |
dc.language.iso | eng | - |
dc.publisher | TRANS TECH PUBLICATIONS LTD | en |
dc.subject | quantum dots | en |
dc.subject | GI-SAXS | en |
dc.subject | Si-Ge | en |
dc.title | Application of grazing-incidence small-angle X-ray scattering technique to semiconducting composite materials | en |
dc.type | journal article | - |
dc.type.niitype | Journal Article | - |
dc.identifier.jtitle | PRICM 5: THE FIFTH PACIFIC RIM INTERNATIONAL CONFERENCE ON ADVANCED MATERIALS AND PROCESSING, PTS 1-5 | en |
dc.identifier.volume | 475-479 | - |
dc.identifier.spage | 1097 | - |
dc.identifier.epage | 1100 | - |
dc.textversion | none | - |
dcterms.accessRights | metadata only access | - |
出現コレクション: | 英文論文データベース |

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