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DCフィールド言語
dc.contributor.authorWada, Aen
dc.contributor.authorKimoto, Ten
dc.contributor.authorNishikawa, Ken
dc.contributor.authorMatsunami, Hen
dc.date.accessioned2007-03-28T03:36:03Z-
dc.date.available2007-03-28T03:36:03Z-
dc.date.issued2005-
dc.identifier.issn0255-5476-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/8904-
dc.language.isoeng-
dc.publisherTRANS TECH PUBLICATIONS LTDen
dc.subjecthot-wall CVDen
dc.subjectC faceen
dc.subjecthomoepitaxyen
dc.subjectdeep levelen
dc.titleImproved surface morphology and background doping concentration in 4H-SiC(000-1) epitaxial growth by hot-wall CVDen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleSILICON CARBIDE AND RELATED MATERIALS 2004en
dc.identifier.volume483-
dc.identifier.spage85-
dc.identifier.epage88-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
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