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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Yano, H | en |
| dc.contributor.author | Katafuchi, F | en |
| dc.contributor.author | Kimoto, T | en |
| dc.contributor.author | Matsunami, H | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T03:11:36Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T03:11:36Z | - |
| dc.date.issued | 1999 | - |
| dc.identifier.issn | 0951-3248 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/8919 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | IOP PUBLISHING LTD | en |
| dc.title | Effects of oxidation/anneal atmosphere on SiC MOS interface and MOSFETs | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | COMPOUND SEMICONDUCTORS 1998 | en |
| dc.identifier.issue | 162 | - |
| dc.identifier.spage | 723 | - |
| dc.identifier.epage | 728 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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