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dc.contributor.author朝日, 均ja
dc.contributor.alternativeAsahi, Hitoshien
dc.contributor.transcriptionアサヒ, ヒトシja
dc.date.accessioned2010-01-07T01:09:40Z-
dc.date.available2010-01-07T01:09:40Z-
dc.date.issued1981-05-20-
dc.identifier.issn0525-2997-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/90283-
dc.descriptionこの論文は国立情報学研究所の電子図書館事業により電子化されました。ja
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isojpn-
dc.publisher物性研究刊行会ja
dc.subject.ndc428-
dc.title1. 電子顕微鏡によるシリコンの格子欠陥の研究(大阪大学基礎工学部物性物理学教室,修士論文アブストラクト(1980年度))ja
dc.typedepartmental bulletin paper-
dc.type.niitypeDepartmental Bulletin Paper-
dc.identifier.ncidAN0021948X-
dc.identifier.jtitle物性研究ja
dc.identifier.volume36-
dc.identifier.issue2-
dc.identifier.spage62-
dc.identifier.epage63-
dc.textversionpublisher-
dc.sortkey19-
dc.address大阪大学基礎工学部物性物理学教室ja
dcterms.accessRightsopen access-
出現コレクション:Vol.36 No.2

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