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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| KJ00004775985.pdf | 38.65 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Nishitani, Akira | en |
| dc.contributor.transcription | ニシタニ, アキラ | ja |
| dc.date.accessioned | 2010-02-02T01:39:54Z | - |
| dc.date.available | 2010-02-02T01:39:54Z | - |
| dc.date.issued | 1988-09-20 | - |
| dc.identifier.issn | 0525-2997 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/93294 | - |
| dc.description | この論文は国立情報学研究所の電子図書館事業により電子化されました。 | ja |
| dc.format.mimetype | application/pdf | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | 物性研究刊行会 | ja |
| dc.subject.ndc | 428 | - |
| dc.title | 4. Application of the Single-Crystal Inclination Method to Study on Microdefects in Silicon | en |
| dc.type | departmental bulletin paper | - |
| dc.type.niitype | Departmental Bulletin Paper | - |
| dc.identifier.ncid | AN0021948X | - |
| dc.identifier.jtitle | 物性研究 | ja |
| dc.identifier.volume | 50 | - |
| dc.identifier.issue | 6 | - |
| dc.identifier.spage | 1106 | - |
| dc.identifier.epage | 1106 | - |
| dc.textversion | publisher | - |
| dc.sortkey | 146 | - |
| dc.address | 関西学院大学理学部物理学教室 | ja |
| dcterms.accessRights | open access | - |
| 出現コレクション: | Vol.50 No.6 | |
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