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ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
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KJ00004786806.pdf | 53.45 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
タイトル: | 14.走査トンネル顕微鏡の試作と高分解能反射電子顕微鏡法によるSi表面の研究(東京工業大学大学院理工学研究科物理学専攻,修士論文題目・アブストラクト(1988年度)) |
著者: | 室岡, 賢一 ![]() |
著者名の別形: | Murooka, Kenichi |
発行日: | 20-Sep-1989 |
出版者: | 物性研究刊行会 |
誌名: | 物性研究 |
巻: | 52 |
号: | 6 |
開始ページ: | 729 |
終了ページ: | 729 |
記述: | この論文は国立情報学研究所の電子図書館事業により電子化されました。 |
URI: | http://hdl.handle.net/2433/93714 |
出現コレクション: | Vol.52 No.6 |

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