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タイトル: Prediction of Intrinsic Defects in Hydrogenated Amorphous Silicon by ab initio Molecular Dynamics
著者: 吉田, 博  KAKEN_name
織田, 望  KAKEN_name
著者名の別形: Yoshida, Hiroshi
Orita, Nozomi
発行日: 20-May-1994
出版者: 物性研究刊行会
誌名: 物性研究
巻: 62
号: 2
開始ページ: 269
終了ページ: 271
記述: この論文は国立情報学研究所の電子図書館事業により電子化されました。
URI: http://hdl.handle.net/2433/95335
出現コレクション:Vol.62 No.2

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