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dc.contributor.authorOSHIO, Ken-ichien
dc.contributor.authorYAHATA, Hideoen
dc.contributor.transcriptionオシオ, ケンイチja
dc.contributor.transcriptionヤハタ, ヒデオja
dc.date.accessioned2010-02-08T08:40:06Z-
dc.date.available2010-02-08T08:40:06Z-
dc.date.issued1996-06-20-
dc.identifier.issn0525-2997-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/95819-
dc.descriptionこの論文は国立情報学研究所の電子図書館事業により電子化されました。ja
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoeng-
dc.publisher物性研究刊行会ja
dc.subject.ndc428-
dc.titleRECOMBINATION INSTABILITY INDUCED CURRENT OSCILLATIONS IN SEMICONDUCTORS(Session I : Cross-Disciplinary Physics, The 1st Tohwa University International Meeting on Statistical Physics Theories, Experiments and Computer Simulations)en
dc.typedepartmental bulletin paper-
dc.type.niitypeDepartmental Bulletin Paper-
dc.identifier.ncidAN0021948X-
dc.identifier.jtitle物性研究ja
dc.identifier.volume66-
dc.identifier.issue3-
dc.identifier.spage436-
dc.identifier.epage437-
dc.textversionpublisher-
dc.sortkey031-
dc.addressDepartment of Materials Science, Faculty of Science, Hiroshima Universityen
dc.addressDepartment of Materials Science, Faculty of Science, Hiroshima Universityen
dcterms.accessRightsopen access-
出現コレクション:Vol.66 No.3

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