ブラウズ : キーワード S-N curve
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| 書誌情報 | ファイル |
|---|---|
| High-cycle fatigue of micromachined single crystal silicon measured using a parallel fatigue test system Ikehara, Tsuyoshi; Tsuchiya, Toshiyuki (2007) IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 4(9): 288-293 |