検索
検索条件の追加:
検索条件を追加することで検索結果を絞り込むことができます。
検索結果表示: 1-1 / 1.
- 前
- 1
- 次
検索結果:
| 書誌情報 | ファイル |
|---|---|
| Crystallographic defects under device-killing surface faults in a homoepitaxially grown film of SiC Okada, T; Kimoto, T; Yamai, K; Matsunami, H; Inoko, F (2003) MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING, 361(1-2): 67-74 |