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書誌情報ファイル
Development of dual-probe atomic force microscopy system using optical beam deflection sensors with obliquely incident laser beams
  Tsunemi, Eika; Kobayashi, Kei; Matsushige, Kazumi; Yamada, Hirofumi (2011-03)
  REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 82(3)
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Frequency noise in frequency modulation atomic force microscopy
  Kobayashi, Kei; Yamada, Hirofumi; Matsushige, Kazumi (2009)
  REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 80(4)

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