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書誌情報ファイル
Complete micropipe dissociation in 4H-SiC(03(3)over-bar8) epitaxial growth and its impact on reverse characteristics of Schottky barrier diodes
  Kimoto, T; Danno, K; Fujihira, K; Shiomi, H; Matsunami, H (2002)
  SILICON CARBIDE AND RELATED MATERIALS - 2002, 433-4: 197-200

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