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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| elex.7.480.pdf | 477.37 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Phankong, Nathabhat | en |
| dc.contributor.author | Funaki, Tsuyoshi | en |
| dc.contributor.author | Hikihara, Takashi | en |
| dc.date.accessioned | 2012-01-11T05:11:48Z | - |
| dc.date.available | 2012-01-11T05:11:48Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.issn | 1349-2543 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/152259 | - |
| dc.format.mimetype | application/pdf | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | IEICE-INST ELECTRONICS INFORMATION COMMUNICATIONS ENG | en |
| dc.rights | (c) 社団法人電子情報通信学会 | ja |
| dc.subject | C-V characteristics | en |
| dc.subject | voltage dependency | en |
| dc.subject | SiC | en |
| dc.subject | MOSFET | en |
| dc.title | Characterization of the gate-voltage dependency of input capacitance in a SiC MOSFET | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | IEICE ELECTRONICS EXPRESS | en |
| dc.identifier.volume | 7 | - |
| dc.identifier.issue | 7 | - |
| dc.identifier.spage | 480 | - |
| dc.identifier.epage | 486 | - |
| dc.relation.doi | 10.1587/elex.7.480 | - |
| dc.textversion | publisher | - |
| dc.relation.url | http://www.ieice.org/eng/trans_online/index.html | - |
| dcterms.accessRights | open access | - |
| 出現コレクション: | 学術雑誌掲載論文等 | |
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