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タイトル: 半導体パッケージの反りと残留応力評価および応力に起因する電子デバイスの電気的特性変動評価
著者: 松田, 和敏  KAKEN_name
著者名の別形: Matsuda, Kazutoshi
キーワード: 半導体パッケージ
反り
残留応力
有限要素法
ピエゾ効果
応力特異場
発行日: 25-Mar-2013
出版者: 京都大学
学位授与大学: Kyoto University (京都大学)
学位の種類: 新制・課程博士
取得分野: 博士(工学)
報告番号: 甲第17552号
学位記番号: 工博第3711号
請求記号: 新制/工/1565
整理番号: 30318
研究科・専攻: 京都大学大学院工学研究科機械理工学専攻
論文調査委員: (主査)教授 宮﨑 則幸, 教授 北條 正樹, 教授 西脇 眞二
学位授与の要件: 学位規則第4条第1項該当
DOI: 10.14989/doctor.k17552
URI: http://hdl.handle.net/2433/174918
出現コレクション:博士(工学)

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