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Title: 半導体パッケージの反りと残留応力評価および応力に起因する電子デバイスの電気的特性変動評価
Authors: 松田, 和敏  KAKEN_name
Author's alias: Matsuda, Kazutoshi
Keywords: 半導体パッケージ
反り
残留応力
有限要素法
ピエゾ効果
応力特異場
Issue Date: 25-Mar-2013
Publisher: 京都大学 (Kyoto University)
Conferring University: 京都大学
Degree Level: 新制・課程博士
Degree Discipline: 博士(工学)
Degree Report no.: 甲第17552号
Degree no.: 工博第3711号
Conferral date: 2013-03-25
Degree Call no.: 新制||工||1565(附属図書館)
Degree Serial no.: 30318
Degree Affiliation: 京都大学大学院工学研究科機械理工学専攻
Examination Committee members: (主査)教授 宮﨑 則幸, 教授 北條 正樹, 教授 西脇 眞二
Provisions of the Ruling of Degree: 学位規則第4条第1項該当
DOI: 10.14989/doctor.k17552
URI: http://hdl.handle.net/2433/174918
Appears in Collections:090 Doctoral Dissertation (Philosophy (Engineering))

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