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dc.contributor.authorKenmochi, N.en
dc.contributor.authorMinami, T.en
dc.contributor.authorTakahashi, C.en
dc.contributor.authorTei, S.en
dc.contributor.authorMizuuchi, T.en
dc.contributor.authorKobayashi, S.en
dc.contributor.authorNagasaki, K.en
dc.contributor.authorNakamura, Y.en
dc.contributor.authorOkada, H.en
dc.contributor.authorKado, S.en
dc.contributor.authorYamamoto, S.en
dc.contributor.authorOhshima, S.en
dc.contributor.authorKonoshima, S.en
dc.contributor.authorShi, N.en
dc.contributor.authorZang, L.en
dc.contributor.authorOhtani, Y.en
dc.contributor.authorKasajima, K.en
dc.contributor.authorSano, F.en
dc.contributor.alternative南, 貴司ja
dc.date.accessioned2014-08-21T05:10:54Z-
dc.date.available2014-08-21T05:10:54Z-
dc.date.issued2014-11-
dc.identifier.issn0034-6748-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/189423-
dc.description.abstractA Nd:YAG Thomson scattering system has been developed for Heliotron J. The system consists of two 550 mJ 50 Hz lasers, large collection optics, and 25 radial channel (∼1 cm spatial resolution) interference polychromators. This measurement system achieves a S/N ratio of ∼50 for low-density plasma (n [e] ∼ 0.5 × 10{19} m{−3}). A time evolution of electron temperature profiles was measured with this system for a high-intensity gas-puff (HIGP) fueling neutral-beam-injection plasma. The peripheral temperature of the higher-density phase after HIGP recovers to the low-density pre-HIGP level, suggesting that improving particle transport in the HIGP plasma may be possible.en
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoeng-
dc.publisherAIP Publishingen
dc.rights© 2014 AIP Publishing LLCen
dc.titleFirst measurement of time evolution of electron temperature profiles with Nd:YAG Thomson scattering system on Heliotron Jen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.ncidAA00817730-
dc.identifier.jtitleReview of Scientific Instrumentsen
dc.identifier.volume85-
dc.identifier.issue11-
dc.relation.doi10.1063/1.4890255-
dc.textversionpublisher-
dc.identifier.artnum11D819-
dc.identifier.pmid25430232-
dcterms.accessRightsopen access-
dc.identifier.pissn0034-6748-
dc.identifier.eissn1089-7623-
出現コレクション:学術雑誌掲載論文等

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