ダウンロード数: 847
このアイテムのファイル:
| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| ApplPhysLett_86_122104.pdf | 55.11 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Danno, K | en |
| dc.contributor.author | Kimoto, T | en |
| dc.contributor.author | Matsunami, H | en |
| dc.date.accessioned | 2006-12-25T02:30:08Z | - |
| dc.date.available | 2006-12-25T02:30:08Z | - |
| dc.date.issued | 2005-03-21 | - |
| dc.identifier.citation | K. Danno et al., Appl. Phys. Lett. 86, 122104 (2005) | - |
| dc.identifier.issn | 0003-6951 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/24193 | - |
| dc.format.extent | 56437 bytes | - |
| dc.format.mimetype | application/pdf | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | American Institute of Physics | en |
| dc.rights | Copyright 2005 American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics. | en |
| dc.title | Midgap levels in both n- and p-type 4H-SiC epilayers investigated by deep level transient spectroscopy | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.ncid | AA00543431 | - |
| dc.identifier.jtitle | Applied Physics Letters | en |
| dc.identifier.volume | 86 | - |
| dc.identifier.issue | 12 | - |
| dc.relation.doi | 10.1063/1.1886904 | - |
| dc.textversion | publisher | - |
| dc.identifier.artnum | 122104 | - |
| dc.relation.url | http://link.aip.org/link/?apl/86/122104 | - |
| dcterms.accessRights | open access | - |
| 出現コレクション: | 学術雑誌掲載論文等 | |
このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。