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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| vss.64.458.pdf | 2.48 MB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | 飛躍的な発展を遂げる二次イオン質量分析（SIMS）法の展望有機・生体高分子分野への新展開 |
| その他のタイトル: | Innovative Technologies in Advanced SIMS : Toward Organic and Biological Material Analysis |
| 著者: | 松尾, 二郎  瀬木, 利夫 青木, 学聡 |
| 著者名の別形: | MATSUO, Jiro SEKI, Toshio AOKI, Takaaki |
| キーワード: | SIMS cluster ion beams organic molecules mass spectrometer swift heavy ions |
| 発行日: | 10-Oct-2021 |
| 出版者: | 日本表面真空学会 |
| 誌名: | 表面と真空 |
| 巻: | 64 |
| 号: | 10 |
| 開始ページ: | 458 |
| 終了ページ: | 465 |
| 抄録: | Overview of SIMS technique is reported in conjunction with novel primary ion beams and advanced mass spectrometers. Many applications of SIMS, from organic semiconductors to cells and tissues, have been demonstrated over the past 10 years. One of the biggest problems was the “static limit” in the analysis of organic molecules, which are very fragile in ion bombardment. However, this problem was overcome after the development of large cluster ion beams. This opens up new possibilities for SIMS to analyze organic materials. Future prospects of MS/MS technique and “Ambient SIMS” with MeV ion beam are discussed. |
| 記述: | 特集「マイクロビームアナリシス技術部会特集号」 |
| 著作権等: | この記事はクリエイティブ・コモンズ [表示 - 非営利 4.0 国際]ライセンスの下に提供されています。 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/277812 |
| DOI(出版社版): | 10.1380/vss.64.458 |
| 出現コレクション: | 学術雑誌掲載論文等 |
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