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タイトル: A study on heavy ion-induced single event effects for radiation-tolerant FPGA development
その他のタイトル: 耐放射線性FPGAに向けた重粒子誘起シングルイベント効果の研究
著者: Kozo, Takeuchi
著者名の別形: 竹内, 浩造
キーワード: single event effects
FPGA
radiation
heavy ion
atom switch
SRAM
発行日: 24-Sep-2024
出版者: Kyoto University
学位授与大学: 京都大学
学位の種類: 新制・課程博士
取得分野: 博士(情報学)
報告番号: 甲第25641号
学位記番号: 情博第897号
metadata.dc.date.granted: 2024-09-24
請求記号: 新制||情||150(附属図書館)
研究科・専攻: 京都大学大学院情報学研究科情報学専攻
論文調査委員: (主査)教授 橋本 昌宜, 教授 佐藤 高史, 教授 石井 信
学位授与の要件: 学位規則第4条第1項該当
著作権等: 許諾条件により本文は2026-09-30に公開
学位規則第9条第2項により要約公開
DOI: 10.14989/doctor.k25641
URI: http://hdl.handle.net/2433/292848
出現コレクション:140 博士(情報学)

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