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| タイトル: | Nano-localized desorption and time-of-flight mass analysis using solely optical enhancement in the proximity of a scanning tunneling microscope tip |
| 著者: | Ding, Y Micheletto, R Okazaki, S Otsuka, K   https://orcid.org/0000-0003-1088-0569 (unconfirmed) |
| キーワード: | TOF STM near field mass spectrometer ionization laser surface analysis surface characterization |
| 発行日: | 2003 |
| 出版者: | ELSEVIER SCIENCE BV |
| 誌名: | APPLIED SURFACE SCIENCE |
| 巻: | 211 |
| 号: | 1-4 |
| 開始ページ: | 82 |
| 終了ページ: | 88 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/3359 |
| DOI(出版社版): | 10.1016/S0169-4332(03)00174-0 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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