High spatial resolution extended x-ray emission fine structure (EXEFS) spectra of an electronic device measured by electron probe microanalysis (EPMA)

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http://hdl.handle.net/2433/4736

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タイトル:	High spatial resolution extended x-ray emission fine structure (EXEFS) spectra of an electronic device measured by electron probe microanalysis (EPMA)
著者:	Kawai, J https://orcid.org/0000-0002-1289-7666 (unconfirmed) Takahashi, H
キーワード:	x-ray analysis EPMA XANES x-ray absorption EXEFS
発行日:	2001
出版者:	JOHN WILEY & SONS LTD
誌名:	SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS
巻:	31
号:	2
開始ページ:	114
終了ページ:	117
URI:	http://hdl.handle.net/2433/4736
DOI(出版社版):	10.1002/sia.965
リンク:	Web of Science
出現コレクション:	英文論文データベース

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