このアイテムのアクセス数: 0

このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
完全メタデータレコード
DCフィールド言語
dc.contributor.authorKawai, Jen
dc.contributor.authorTohno, Sen
dc.date.accessioned2007-03-28T03:28:48Z-
dc.date.available2007-03-28T03:28:48Z-
dc.date.issued2001-
dc.identifier.issn0733-4680-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/4737-
dc.language.isoeng-
dc.publisherMARCEL DEKKER INCen
dc.subjectaerosolsen
dc.subjectX-ray absorptionen
dc.subjectchemical state of siliconen
dc.subjectX-ray spectrometryen
dc.subjectXANESen
dc.subjectEXEFSen
dc.subjectsynchrotron radiationen
dc.titleExtended X-ray emission fine structure (EXEFS) and X-ray absorption near edge structure (XANES) of soil samplesen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleJOURNAL OF TRACE AND MICROPROBE TECHNIQUESen
dc.identifier.volume19-
dc.identifier.issue4-
dc.identifier.spage497-
dc.identifier.epage507-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
出現コレクション:英文論文データベース

アイテムの簡略レコードを表示する

Export to RefWorks


出力フォーマット 


このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。