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タイトル: Extended X-ray emission fine structure (EXEFS) and X-ray absorption near edge structure (XANES) of soil samples
著者: Kawai, J  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-1289-7666 (unconfirmed)
Tohno, S  KAKEN_id
キーワード: aerosols
X-ray absorption
chemical state of silicon
X-ray spectrometry
XANES
EXEFS
synchrotron radiation
発行日: 2001
出版者: MARCEL DEKKER INC
誌名: JOURNAL OF TRACE AND MICROPROBE TECHNIQUES
巻: 19
号: 4
開始ページ: 497
終了ページ: 507
URI: http://hdl.handle.net/2433/4737
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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