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書誌情報 | ファイル |
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Identification and Application of Invariant Critical Paths under NBTI Degradation BIAN, Song; MORITA, Shumpei; SHINTANI, Michihiro; AWANO, Hiromitsu; HIROMOTO, Masayuki; SATO, Takashi (2017-12) IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E100.A(12): 2797-2806 |