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タイトル: Validation of X-ray lithography and development simulation system for moving mask deep X-ray lithography
著者: Hirai, Y  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0003-0835-7314 (unconfirmed)
Hafizovic, S
Matsuzuka, N
Korvink, JG
Tabata, O  KAKEN_id
発行日: Feb-2006
出版者: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
誌名: JOURNAL OF MICROELECTROMECHANICAL SYSTEMS
巻: 15
号: 1
開始ページ: 159
終了ページ: 168
著作権等: (c)2006 IEEE. Personal use of this material is permitted. However, permission to reprint/republish this material for advertising or promotional purposes or for creating new collective works for resale or redistribution to servers or lists, or to reuse any copyrighted component of this work in other works must be obtained from the IEEE.
URI: http://hdl.handle.net/2433/50210
DOI(出版社版): 10.1109/JMEMS.2005.859191
出現コレクション:学術雑誌掲載論文等

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