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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| p15303_1.pdf | 82.31 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | Structure and paramagnetic properties of defect centers in Ge-doped SiO2 glass: Localized and delocalized Ge E ' centers |
| 著者: | Uchino, T Takahashi, M Yoko, T |
| 発行日: | 15-Dec-2000 |
| 出版者: | AMERICAN PHYSICAL SOC |
| 誌名: | PHYSICAL REVIEW B |
| 巻: | 62 |
| 号: | 23 |
| 開始ページ: | 15303 |
| 終了ページ: | 15306 |
| 著作権等: | Copyright 2000 American Physical Society |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/50388 |
| DOI(出版社版): | 10.1103/PhysRevB.62.15303 |
| 関連リンク: | http://link.aps.org/abstract/PRB/v62/p15303 |
| 出現コレクション: | 学術雑誌掲載論文等 |
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