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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Shang, F | en |
| dc.contributor.author | Kitamura, T | en |
| dc.contributor.author | Hirakata, H | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T03:35:44Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T03:35:44Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.issn | 1058-4587 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/7175 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | TAYLOR & FRANCIS LTD | en |
| dc.title | Delamination test and the effect of free edge on interface strength of PZT thin films | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | INTEGRATED FERROELECTRICS | en |
| dc.identifier.volume | 73 | - |
| dc.identifier.spage | 67 | - |
| dc.identifier.epage | 74 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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