このアイテムのアクセス数: 0
このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
| タイトル: | Delamination test and the effect of free edge on interface strength of PZT thin films |
| 著者: | Shang, F Kitamura, T  Hirakata, H |
| 発行日: | 2005 |
| 出版者: | TAYLOR & FRANCIS LTD |
| 誌名: | INTEGRATED FERROELECTRICS |
| 巻: | 73 |
| 開始ページ: | 67 |
| 終了ページ: | 74 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/7175 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。