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| タイトル: | Mechanism of electron trapping in Ge-doped SiO2 glass |
| 著者: | Uchino, T Takahashi, M Yoko, T |
| 発行日: | 2001 |
| 出版者: | AMER INST PHYSICS |
| 誌名: | APPLIED PHYSICS LETTERS |
| 巻: | 79 |
| 号: | 3 |
| 開始ページ: | 359 |
| 終了ページ: | 361 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/8023 |
| DOI(出版社版): | 10.1063/1.1383273 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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