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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Wakabayashi, H | en |
| dc.contributor.author | Makino, T | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T03:17:32Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T03:17:32Z | - |
| dc.date.issued | 2001 | - |
| dc.identifier.issn | 0957-0233 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/8153 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | IOP PUBLISHING LTD | en |
| dc.subject | thermal radiation | en |
| dc.subject | spectroscopic measurement | en |
| dc.subject | thermophysical property | en |
| dc.subject | heat transfer | en |
| dc.subject | interference and diffraction | en |
| dc.subject | real surface | en |
| dc.subject | surface film | en |
| dc.subject | surface roughness | en |
| dc.subject | surface diagnosis | en |
| dc.title | A new spectrophotometer system for measuring thermal radiation phenomena in a 0.30-11 mu m wavelength region | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY | en |
| dc.identifier.volume | 12 | - |
| dc.identifier.issue | 12 | - |
| dc.identifier.spage | 2113 | - |
| dc.identifier.epage | 2120 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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