このアイテムのアクセス数: 0
このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
| タイトル: | A new spectrophotometer system for measuring thermal radiation phenomena in a 0.30-11 mu m wavelength region |
| 著者: | Wakabayashi, H   Makino, T |
| キーワード: | thermal radiation spectroscopic measurement thermophysical property heat transfer interference and diffraction real surface surface film surface roughness surface diagnosis |
| 発行日: | 2001 |
| 出版者: | IOP PUBLISHING LTD |
| 誌名: | MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY |
| 巻: | 12 |
| 号: | 12 |
| 開始ページ: | 2113 |
| 終了ページ: | 2120 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/8153 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。