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dc.contributor.authorYoshikawa, Jen
dc.contributor.authorKurokawa, Sen
dc.contributor.authorSakai, Aen
dc.date.accessioned2007-03-28T03:27:54Z-
dc.date.available2007-03-28T03:27:54Z-
dc.date.issued2001-
dc.identifier.issn0169-4332-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/8586-
dc.language.isoeng-
dc.publisherELSEVIER SCIENCE BVen
dc.subjectscanning tunneling microscopyen
dc.subjectwork function measurementsen
dc.subjectsiliconen
dc.subjectalkali metalsen
dc.titleBarrier-height imaging of Cs-adsorbed Si(111)en
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleAPPLIED SURFACE SCIENCEen
dc.identifier.volume169-
dc.identifier.spage202-
dc.identifier.epage205-
dc.relation.doi10.1016/S0169-4332(00)00651-6-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
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