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| タイトル: | Barrier-height imaging of Cs-adsorbed Si(111) |
| 著者: | Yoshikawa, J Kurokawa, S    https://orcid.org/0000-0003-3934-1040 (unconfirmed)Sakai, A |
| キーワード: | scanning tunneling microscopy work function measurements silicon alkali metals |
| 発行日: | 2001 |
| 出版者: | ELSEVIER SCIENCE BV |
| 誌名: | APPLIED SURFACE SCIENCE |
| 巻: | 169 |
| 開始ページ: | 202 |
| 終了ページ: | 205 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/8586 |
| DOI(出版社版): | 10.1016/S0169-4332(00)00651-6 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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