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Vol.40 No.4   42
(http://hdl.handle.net/2433/86872)

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35. A.C. Conductivity and the Electron Localization in Si MOS-FET under High Magnetic Fields(Experiments,IV. Quantized Hall Effects)
  Miura, N.; Isawa, Y. (1983-07-20)
  物性研究, 40(4): 116-118
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表紙・投稿規定・プレプリント案内・編集後記・裏表紙ほか
   (1983-07-20)
  物性研究, 40(4): 416-434
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