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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| KJ00004810726.pdf | 120.09 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | 1. 電子顕微鏡によるシリコンの格子欠陥の研究(大阪大学基礎工学部物性物理学教室,修士論文アブストラクト(1980年度)) |
| 著者: | 朝日, 均  |
| 著者名の別形: | Asahi, Hitoshi |
| 発行日: | 20-May-1981 |
| 出版者: | 物性研究刊行会 |
| 誌名: | 物性研究 |
| 巻: | 36 |
| 号: | 2 |
| 開始ページ: | 62 |
| 終了ページ: | 63 |
| 記述: | この論文は国立情報学研究所の電子図書館事業により電子化されました。 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/90283 |
| 出現コレクション: | Vol.36 No.2 |
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