検索
検索条件の追加:
検索条件を追加することで検索結果を絞り込むことができます。
検索結果表示: 1-1 / 1.
- 前
- 1
- 次
検索結果:
書誌情報 | ファイル |
---|---|
In-situ RHEED analysis during alpha-SiC homoepitaxy on (0001)Si- and (000(1)over-bar)C-faces by gas source molecular beam epitaxy Hatayama, T; Fuyuki, T; Nakamura, S; Kurobe, K; Kimoto, T; Matsunami, H (2000) SILICON CARBIDE AND RELATED MATERIALS - 1999 PTS, 1 & 2, 338-3: 361-364 |
絞り込み
発行日
- 1 2000